一、产品介绍

UV-A 型紫外辐照计采用 SMT 贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定， 适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

二、产品参数

1、 波长范围及峰值波长：(以下两种选其一)

（1）UV-420 探头：λ：(375～475)nm；λP＝420nm

（2）UV-365 探头：λ：(320～400)nm；λP＝365nm

2、辐照度测量范围：(0.1～199.9×103) μW/cm2

3、紫外带外区杂光： UV420：小于 0.02%

UV365：小于 0.02%

4、相对示值误差：±8%（相对与 NIM 标准）

5、余弦特性(方向性响应)误差：±10%

6、线性误差：±1%

7、换档误差：±1%

8、短期不稳定性：±1%（开机 30min 后）

9、疲劳特性：衰减量小于 2%

10、零值误差：满量程的±1%

11、响应时间：1 秒

12、使用环境： 温度(0～40)℃，湿度＜85%RH

13、 尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg

14、电源： 常规使用 6F22 型 9V 积层电池一只亦可使用数据线连接 USB 接口、5V 电源适配器供电

整机功耗 ＜0.1VA

三、产品特点

1、光谱及角度特性经严格校正

2、数字液晶显示，带背光

3、手动/自动量程切换

4、数字输出接口（USB,冗余供电）

5、低电量提醒

6、自动延时关机

7、有数字保持

8、轻触按键操作，蜂鸣提示

一、产品介绍

UV-A 型紫外辐照计采用 SMT 贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定， 适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

二、产品参数

1、 波长范围及峰值波长：(以下两种选其一)

（1）UV-420 探头：λ：(375～475)nm；λP＝420nm

（2）UV-365 探头：λ：(320～400)nm；λP＝365nm

2、辐照度测量范围：(0.1～199.9×103) μW/cm2

3、紫外带外区杂光： UV420：小于 0.02%

UV365：小于 0.02%

4、相对示值误差：±8%（相对与 NIM 标准）

5、余弦特性(方向性响应)误差：±10%

6、线性误差：±1%

7、换档误差：±1%

8、短期不稳定性：±1%（开机 30min 后）

9、疲劳特性：衰减量小于 2%

10、零值误差：满量程的±1%

11、响应时间：1 秒

12、使用环境： 温度(0～40)℃，湿度＜85%RH

13、 尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg

14、电源： 常规使用 6F22 型 9V 积层电池一只亦可使用数据线连接 USB 接口、5V 电源适配器供电

整机功耗 ＜0.1VA

三、产品特点

1、光谱及角度特性经严格校正

2、数字液晶显示，带背光

3、手动/自动量程切换

4、数字输出接口（USB,冗余供电）

5、低电量提醒

6、自动延时关机

7、有数字保持

8、轻触按键操作，蜂鸣提示